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可控硅缺陷產(chǎn)生的原因和維護(hù)方法是什么?

發(fā)布時(shí)間: 2022-05-13 16:50:57    人氣:277 次

  可控硅(可控硅整流器)是一種大功率電氣元件,又稱晶閘管。它具有體積小、效率高、壽命長的優(yōu)點(diǎn)。在自動(dòng)控制系統(tǒng)中,它可以作為大功率驅(qū)動(dòng)裝置,用小功率控制器控制大功率設(shè)備。它已廣泛應(yīng)用于交流/DC電機(jī)調(diào)速系統(tǒng)、功率調(diào)節(jié)系統(tǒng)和伺服系統(tǒng)。

  可控硅可分為單向可控硅和雙向可控硅。雙向可控硅又叫三向雙向可控硅,簡稱TRIAC。雙向可控硅在結(jié)構(gòu)上相當(dāng)于兩個(gè)單向可控硅反向連接,這個(gè)可控硅具有雙向?qū)üδ堋K拈_關(guān)狀態(tài)由柵jiG決定,給控制電jiG加一個(gè)正脈沖(或負(fù)脈沖)可以使它正向(或反向)導(dǎo)通。這種器件的優(yōu)點(diǎn)是控制電路簡單,不存在反向耐壓問題,特別適用于交流無觸點(diǎn)開關(guān)。

 

  一、可控硅不好的原因

  1.電壓擊穿

  可控硅由于無法承受電壓而損壞,其芯片上有一個(gè)光潔的洞,有時(shí)需要放大鏡才能看到。原因可能是燈管本身的壓降,也可能是電路斷開時(shí)產(chǎn)生的高壓擊穿。

  2.當(dāng)前損壞

  電流損傷的痕跡表現(xiàn)為芯片被燒成坑狀,坑狀粗糙,位置遠(yuǎn)離控制電ji。

  3.電流上升率的損害

  其痕跡與電流損傷相同,位置在控制電ji附近或正上方。

  4.邊緣損傷

  它發(fā)生在芯片的外圓倒角處,有光潔的小孔。用放大鏡可以看到倒角面上細(xì)小的金屬劃痕。這是由于制造商安裝不小心造成的。會導(dǎo)致電壓擊穿。

 

  二、如何保護(hù)可控硅不被損壞

  1.過電壓保護(hù)

  晶閘管對過電壓非常敏感。當(dāng)直流電壓超過其關(guān)態(tài)重復(fù)峰值電壓UDRM一定值時(shí),晶閘管會產(chǎn)生誤導(dǎo),導(dǎo)致電路故障。當(dāng)施加的反向電壓超過其反向重復(fù)峰值電壓URRM一定值時(shí),晶閘管將立即損壞。因此,有必要研究過電壓產(chǎn)生的原因和yizhi過電壓的方法。

  過電壓主要是由于系統(tǒng)所提供的電功率或儲能發(fā)生劇烈變化,使得系統(tǒng)來不及轉(zhuǎn)換,或者系統(tǒng)中原本積累的電磁能量無法耗散。主要發(fā)現(xiàn)雷擊等外部沖擊引起的過電壓和開關(guān)開合引起的沖擊電壓兩種類型。雷擊或高壓斷路器動(dòng)作引起的過電壓是幾微秒到幾毫秒的電壓峰值,對晶閘管是非常危險(xiǎn)的。

  2.過電流保護(hù)

  由于半導(dǎo)體器件體積小,熱容量小,特別是像晶閘管這樣的高壓大電流功率器件,bixu嚴(yán)格控制結(jié)溫,否則會損壞。當(dāng)大于額定值的電流流過晶閘管時(shí),熱量來不及散發(fā),導(dǎo)致結(jié)溫迅速升高,zui終會導(dǎo)致結(jié)層被燒壞。

  造成過流的原因有很多,比如變頻器本身的晶閘管損壞、觸發(fā)電路故障、控制系統(tǒng)故障等。、交流電源電壓過高、過低或異相、負(fù)載過載或短路、鄰近設(shè)備故障等。